Természettudomány Böngészés szerző szerint "A. Nutscha"
-
Comparative measurements on atomic layer deposited Al2O3 thin films using ex situ table top and mapping ellipsometry, as well as X-ray and VUV reflectometry
Petrik Péter; T. Gumprechte; A. Nutscha; Juhász György; Polgár Olivér; Major Csaba; Kozma Péter; Agócs Emil; Fried Miklós