Characterization of Grain Boundary Geometry in the TEM, exemplified in Si thin films

Characterization of Grain Boundary Geometry in the TEM, exemplified in Si thin films

Megtekintés/Megnyitás

089_janos_l_labar_characterization_of_grain.pdf (87.01KB)

Szerző

Lábár János

Koppány Kiss Ákos

Fogarassy Zsolt

Silke Christiansen

Fritz Falk

Metadata

Teljes megjelenítés

URI

http://dtk.tankonyvtar.hu/xmlui/handle/123456789/5768

Collections

Természettudomány