Europai Unió Europai Szociális Alap logo
Comparative measurements on atomic layer deposited Al2O3 thin films using ex situ table top and mapping ellipsometry, as well as X-ray and VUV reflectometry
Digitális Tankönyvtár Logó

Digitális Tankönyvtár

    • Bejelentkezés
    Megtekintés 
    •   Kezdőoldal
    • Digitális Tankönyvtár
    • Természettudomány
    • Megtekintés
    •   Kezdőoldal
    • Digitális Tankönyvtár
    • Természettudomány
    • Megtekintés
    JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

    Comparative measurements on atomic layer deposited Al2O3 thin films using ex situ table top and mapping ellipsometry, as well as X-ray and VUV reflectometry

    Thumbnail
    Megtekintés/Megnyitás
    092_petrik_peter_comparative_measurements.pdf (78.27KB)
    Szerző
    Petrik Péter
    T. Gumprechte
    A. Nutscha
    Juhász György
    Polgár Olivér
    Major Csaba
    Kozma Péter
    Agócs Emil
    Fried Miklós
    Metadata
    Teljes megjelenítés
    URI
    http://dtk.tankonyvtar.hu/xmlui/handle/123456789/6006
    Collections
    • Természettudomány
    Nemzeti Fejlesztési Ügynokség logoDiplomán túl logoOktatási Hivatal logoSzéchenyi Terv logo

    Oktatási Hivatal  ©   2019. Minden jog fenntartva
    Impresszum
    Powered by
    DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
    Original Theme by Atmire NV
      htmlmap

     

    Böngészés

    A teljes repozitóriumbanKategóriák és gyűjteményekMegjelenés dátumaSzerzőCímTárgyszóA gyűjteménybenMegjelenés dátumaSzerzőCímTárgyszó

    Személyes felhasználói fiók

    Bejelentkezés
    Nemzeti Fejlesztési Ügynokség logoDiplomán túl logoOktatási Hivatal logoSzéchenyi Terv logo

    Oktatási Hivatal  ©   2019. Minden jog fenntartva
    Impresszum
    Powered by
    DSpace software copyright © 2002-2016  DuraSpace
    Original Theme by Atmire NV
      htmlmap