Toggle navigation
Digitális Tankönyvtár
Bejelentkezés
Toggle navigation
Megtekintés
Kezdőoldal
Digitális Tankönyvtár
Műszaki
Megtekintés
Kezdőoldal
Digitális Tankönyvtár
Műszaki
Megtekintés
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Correction of the Concentration Profile of the Epitaxially Grown GaAs Thin Film Layers, Measured by Electrolytic Capacitance-Voltage Method
Megtekintés/
Megnyitás
0107_nik_pub_25_cinti2012.pdf (776.5KB)
Szerző
Ürmös Antal
Nemcsics Ákos
Metadata
Teljes megjelenítés
URI
http://dtk.tankonyvtar.hu/xmlui/handle/123456789/6193
Collections
Műszaki
Mehet
Keresés a repozitoriumban
Keresés a gyűjteményben
Böngészés
A teljes repozitóriumban
Kategóriák és gyűjtemények
Megjelenés dátuma
Szerző
Cím
Tárgyszó
A gyűjteményben
Megjelenés dátuma
Szerző
Cím
Tárgyszó
Személyes felhasználói fiók
Bejelentkezés